国内专利
专利名称
双波长量化相位成像和荧光成像联合系统
专利类别
发明专利
申请号
201310016989.0
申请日期
2013/1/17
专利号
第一发明
付彦辉
其它发明人
罗志勇、纪伟、贾策、张翔、仓怀兴、徐涛
国外申请日期
国外申请方式
中国
专利授权日期
缴费情况
实施情况
专利证书号
专利摘要
其它备注
授权