| 专利名称 | 示踪磁性纳米颗粒的新方法 |
| 专利类别 | 发明专利 |
| 申请号 | 201010591290.3 |
| 申请日期 | 2010/12/08 |
| 专利号 | |
| 第一发明 | 阎锡蕴 |
| 其它发明人 | 庄洁、杨东玲、冯静 |
| 国外申请日期 | |
| 国外申请方式 | 中国 |
| 专利授权日期 | |
| 缴费情况 | |
| 实施情况 | |
| 专利证书号 | |
| 专利摘要 | |
| 其它备注 | 授权 |